美國科諾研制版本光學接觸角儀中標香港科技大學納米與材料研究院

美國科諾參與指導，戰(zhàn)略合作伙伴上海梭倫研究版本光學接觸角儀中標 "香港科技大學納米與材料研究院"。這是我們的產(chǎn)品推向應用用戶的一個新里程，也是對我們產(chǎn)品的性能、技術(shù)、服務的一個肯定。

美國科諾將繼續(xù)加大亞太地區(qū)的研發(fā)投入，加強與上海梭倫的戰(zhàn)略合作，與廣大用戶和同行一起不斷提升光學法界面化學分析的關(guān)鍵技術(shù)，擴大界面化學分析儀器應用范圍。
比如，美國科諾已經(jīng)在界面化學基于Young-lalapalace技術(shù)原理的擬合技術(shù)上取得重大突破，不久就將引入第四代基于真實液滴的技術(shù)原理的測試方法法（基于TrueDrop的技術(shù)核心） 動態(tài)接觸角分析的技術(shù)的幾何模型迭代分析技術(shù)。這是一種突破，實現(xiàn)了由BA表擬合技術(shù)和1996年德國柏林理工大學的Spinger教授提出的基于“B"概念的Young-Laplace方程擬合法的第二代擬合技術(shù)，至Newmann教授的龍格庫拉解法下的第三代擬合技術(shù)，向第四代基于真實液滴技術(shù)的新動態(tài)接觸角測試方法法（基于RealDrop的技術(shù)）法的Young-Lapalace的技術(shù)的擬合精度突破。第四代技術(shù)的關(guān)鍵點在于，我們將利用美國科諾強大的圖像分析技術(shù)，真正解決*代與第二代技術(shù)的經(jīng)驗性假設誤差、第三代技術(shù)自動化程度的關(guān)鍵問題，從而提高了分析速度、重復性、人為因素影響等對界面張力測值的影響。此時，明顯的表現(xiàn)是，我們不再像第二代技術(shù)那種必須假設取得理想的B=0.4-0.7時需要根據(jù)經(jīng)驗和估算界面張力值，選用相應針頭的問題。我們認為，界面張力測值與針頭的直徑的選取就是一個經(jīng)驗判斷。這個判斷會造成相當?shù)恼`差與人為影響。